扫描电子显微镜（SEM）是对各种材料的物质表面及内部进行形貌观察、成分分析和结构测定的有力工具。为了促进师生了解、掌握“HITACHI S4800场发射扫描电镜”基本原理和相关操作，实验室安全与条件保障处和国家重点实验室定于8月5日在科研楼1309实验室举办专题培训，现有关事项通知如下：

一、培训时间

2020年8月5日（星期三）上午9:00—11:00

二、培训内容

HITACHI S4800场发射扫描电镜基本原理、样品制备及相关操作

三、主讲人

张国云,旱区作物逆境生物学国家重点实验室技术人员，硕士，高级实验师。

四、企业微信网络直播平台

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五、HITACHI S4800场发射扫描电镜的参数与功能

（一）参数

1.二次电子像分辨率—1.0nm (15KV)，2.0nm (1KV)，1.4nm（1kv，减速功能）；

2.放大倍数：x20～800,000；

3.加速电压：0.1KV～30KV；

4.束流：1.0pA～2.0nA。

（二）功能

1.二次电子形貌（SEI）：对试样表面及断口进行形貌观察分析；

2.背反射成分像/形貌像（BEI）：对试样进行更深一层的形貌观察，并得到原子序数衬度；

3.元素的定性半定量分析（EDX）：结合X射线能谱仪对试样表面某区域或某点进行成分定性和半定量分析。

实验室安全与条件保障处 

旱区作物逆境生物学国家重点实验室

2020年7月31日